安捷伦推业界首款用于850 nm波长元件LCA

发布时间：2007-05-24 　　来源网站：CCID　　　来源媒体：赛迪网　　 点击次数：

　　安捷伦科技公司日前展示了旗下最新型光波元器件分析仪（LCA）――业界首款用于测试850 nm目标波长的元器件的分析仪。Agilent N4376B LCA为最好地表征主要光元器件的频率响应树立了新标准。它专为测试高速电信网络和计算机网络中的10 Gb以太网和光纤通道元器件而设计，具有业界领先的多功能性、测量速度和可靠性。
　　这款LCA可以降低测试成本，加快开发速度，解决目前在LAN/SAN、高速芯片互连和光学背板等方面的挑战。
　　新型Agilent N4376B LCA可以降低测量的不确定性，并且测量结果遵循国际标准（安捷伦对此予以保证）。因此使用它，生产、支持和研发工程师能够提高产品的产量和生产能力。在多模条件下对850 nm目标波长的多模元器件进行测试，可以优化短距离元器件的设计――因为不需要通过其他波长的测量结果来推断850 nm目标波长的测量结果，所以消除了额外的测量不确定性。

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