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| 自动光学检测方案推出 用于液晶面板检测 |
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发布时间：2006-11-09
来源网站：ea3w 来源媒体：数字电视
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【文章简介】 |
奥宝科技(Orbotech)宣布推出专为平面显示器制造业设计的新一代Metrology-on-AOI解决方案，包括线上或离线的自动光学检测(AOI)系统与整合EYES-2020制程资料分析系统，可将高准确性的计量学运用在AOI等系统。
据介绍，将一部分的计量学原理运用CD/OL测量是每一个TFT-LCD制造厂确保精准的面板尺寸所必备的技术。同样地，对于每一层级内各种不同制程阶段中，自动光学检测(AOI)更是不可或缺。因此，一个结合这些功能系统将可降低线上所需设备的数量，有效节省设备的资金支出、无尘室的空间以及维护成本，同时，也可增进营运绩效与品质管控。
奥宝所研发的Metrology-on-AOI概念，消除了传统用在CD/OL测量上耗时与低效率的打样方法。于是，不需等候从生产线上转移到离线计量系统就可取得玻璃面板样本。而现在这些量测方法可以在每次生产线上，利用AOI系统检测每一个玻璃面板有无制造瑕疵时一并完成。因此，使用者可立即获得包括处理鉴定制程偏差的资料分析，以及当任何明确的途径或线上来源的尺寸超过范围发出实时警示。 |
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