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TD三阶段测试首轮结果曝光 T3G芯片未通过
    发布时间:2006-10-18   来源网站:SPForum   来源媒体:天极网   点击次数:
    【文章简介】
  
  
  伴随着十一大假的结束,TD-SCDMA规模网络技术应用第三阶段测试首轮结果业已揭晓,据消息人士透露,在已经完成的芯片和手机测试当中,大唐、展讯和凯明都通过了芯片测试,不过,天碁T3G却未能通过,需进行补测。
  该人士并未对T3G测试未过的原因予以更多说明,只是称与电话接通率不高有关。与芯片测试结果相辅相成的是,采用大唐、展讯和凯明芯片的终端均通过了首轮测试,而采用天碁T3G芯片的终端同样需要进行补测。
阅读全文        网页快照  
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